இன்டர்நேஷனல் ஜர்னல் ஆஃப் அட்வான்ஸ்மென்ட்ஸ் இன் டெக்னாலஜி

இன்டர்நேஷனல் ஜர்னல் ஆஃப் அட்வான்ஸ்மென்ட்ஸ் இன் டெக்னாலஜி
திறந்த அணுகல்

ஐ.எஸ்.எஸ்.என்: 0976-4860

சுருக்கம்

New Analysis Methodology to Evaluate the Environmental Factors and the Deterioration of Metallic Surfaces in the Electronics Industry

Francisco Ramírez Moreno, Sebastián Velarde Córdova, Héctor Alejandro Peláez Molina, Homero Jaime Rodríguez Centeno and Gustavo Lopez Badilla

Based on the use of industrial and computing engineering tools, a new method was developed with a VEGAM matrix for the rapid and effective detection of the effects of the environment (climate and air pollution) on equipment and machines used in the electronics industry. This was done with a staff developed by experts from the National Technological Institute based in the Technological Institute of Mexicali, obtaining an efficiency of 95% in its application in the electronic industry of the city of Mexicali.

மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை.
Top